ISSN 2687-0568

Легирование кремнием эпитаксиальных слоев оксида галлия методом осаждения металлорганических соединений из газовой фазы

Авторы
A.O. Efimov 1, 2 , С.Н. Родин 3 , W.V. Lundin 3 , А.Ю. Иванов 1 , A.V. Sakharov 2, 3 , Д.Ю. Панов 1 , В.А. Спиридонов 1 , П.А. Богданов 1 , A.F. Tsatsulnikov 2 , D.A. Bauman 4

1 Институт перспективных систем передачи данных, Университет ИТМО, Кронверкский пр., д. 49 лит. А, 197101, Санкт-Петербург, Россия

2 НТЦ микроэлектроники РАН, Политехническая ул., д. 26, Санкт-Петербург, 194021, Россия

3 Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе Российской академии наук, Политехническая ул., д. 26, Санкт-Петербург, 194021, Россия

4 Институт перспективных систем передачи данных, Университет ИТМО, Кронверкский пр., д. 49, лит. А., Санкт-Петербург, 197101, Россия

Rev. Adv. Mater. Technol., 2025, vol. 7, no. 3, pp. 141–147
Аннотация

В работе рассмотрены особенности легирования кремнием эпитаксиальных слоев оксида галлия в процессе гомоэпитаксии. На легированных железом подложках β-Ga2O3 методом осаждения металлорганических соединений из газовой фазы (MOCVD) выращены слои β-Ga2O3 легированные кремнием из раствора моносилана при различных потоках силана и температурах роста. Проанализировано кристаллическое качество структур, получены данные подвижности носителей и проводимости слоев в зависимости от параметров легирования.

Ключевые слова
оксид галлия; МОГФЭ; гомоэпитаксия; легирование; подвижность электронов; проводимость
Финансирование

Russian Science Foundation: 24-12-00229

Ссылки
Том 7, № 3
Страницы 141-147
История
© 2025 ITMO University.
This is an open access article under the terms
of the CC BY-NC 4.0 license.
Metadata is available under the terms of the CC BY 4.0 license